此项研究瞄准国际光波长精密测量的发展趋势，结合国内光波长精密测量在高端仪器研发、集成电路计量等领域的迫切需求，为国产高端仪器研发提供了高精度激光参数标定，有力地保障了激光干涉仪、激光跟踪仪以及高精度光栅干涉仪的国产研发。同时团队提出的系列光波长测量方法，为国家集成电路产业计量中心提供完整的光波长溯源方案，推动其在半导体产业中应用落地。